電子元器件的外觀缺陷檢測是一個非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié)。由于此類產(chǎn)品一般體積較小，質(zhì)量要求較高，很難通過人工批量檢測。外觀缺陷的自動檢測需要使用電子元件外觀檢測設(shè)備。. 由于體積小、精度高，芯片的外觀檢測一直是行業(yè)痛點，仍需大量人工檢測。針對以上問題，國辰機(jī)器人基于深度學(xué)習(xí)的光隔離組件外觀檢測解決方案。

【檢測的問題】

需要檢測的缺陷包括劃痕、臟污、破損、鼓包、漏液、露白、凸底、尺寸異常等

【檢測原理】

捕獲的目標(biāo)由CCD工業(yè)相機(jī)轉(zhuǎn)換成圖像信號，送入專用的圖像處理系統(tǒng)，根據(jù)像素分布和亮度信息轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號;圖像系統(tǒng)對這些信號進(jìn)行各種操作，提取目標(biāo)的特征，然后根據(jù)判別結(jié)果控制現(xiàn)場設(shè)備操作。該設(shè)備實現(xiàn)了元器件尺寸測量和外觀缺陷檢測、自動上料、自動檢測、自動分揀、自動卸料、不良品自動剔除的自動化流程。

機(jī)器視覺檢測應(yīng)用領(lǐng)域領(lǐng)域廣泛，如連接器外觀檢測，電容器外觀檢測，電感器外觀檢測，電阻器外觀檢測，PIN針外觀檢測，變壓器外觀檢測，晶圓尺寸及外觀缺陷檢測等。

審核編輯：符乾江