金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 如何制備合適的TEM樣品2025-11-07 15:06

  

  在材料科學(xué)與生命科學(xué)的研究中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為探索物質(zhì)微觀世界不可或缺的工具。然而，許多科研人員在TEM分析過程中常常遇到圖像質(zhì)量不理想、數(shù)據(jù)解讀困難等問題，其根源往往在于最初的樣品制備階段。不適宜的樣品厚度、差的導(dǎo)電性或制樣過程中引入的損傷，都會(huì)直接導(dǎo)致電子束穿透異常、圖像畸變甚至樣品報(bào)廢。合乎規(guī)范的樣品與恰當(dāng)?shù)闹苽浞椒ㄊ撬蠺EM數(shù)據(jù)可靠性

  TEM 顯微鏡 電子束 42瀏覽量

• EBSD技術(shù)的工作原理、數(shù)據(jù)采集與分辨率能力2025-11-06 12:38

  

  EBSD技術(shù)：材料顯微學(xué)的先進(jìn)工具電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是材料科學(xué)中一種重要的顯微分析技術(shù)。它通過分析高能電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的背散射電子的衍射花樣，獲取樣品的晶體結(jié)構(gòu)、晶粒取向、晶界類型等關(guān)鍵晶體學(xué)信息。作為一種結(jié)合了掃描電子顯微鏡（SEM）與衍射分析功能的高分辨率表征手段，EBSD在材料研究與工業(yè)檢測(cè)中發(fā)揮著越來越重要的作用。EBSD技術(shù)的基

  工業(yè)檢測(cè) 數(shù)據(jù)采集 電子束 46瀏覽量

• 透光率測(cè)定：原理、方法與實(shí)用指南2025-11-06 12:37

  

  在日常生活中，我們隨處可見各種透明或半透明材料——從高樓大廈的玻璃幕墻到手中的手機(jī)屏幕，從汽車的擋風(fēng)玻璃到食品包裝薄膜。這些材料看似相同，實(shí)則透光性能千差萬別。透光率，這個(gè)衡量材料透光能力的關(guān)鍵指標(biāo)，直接影響著產(chǎn)品的性能與用戶體驗(yàn)。透光率究竟是什么？透光率是評(píng)價(jià)材料對(duì)光透過能力的重要參數(shù)，簡(jiǎn)單來說，它描述了光線穿過材料后保留了多少能量。當(dāng)光線照射到材料表面時(shí)

  材料 汽車制造 測(cè)定 64瀏覽量

• 一文看懂掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）2025-11-06 12:36

  

  從最初的光學(xué)顯微鏡到如今的電子顯微鏡，我們觀察微觀世界的能力不斷提升，推動(dòng)了材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體技術(shù)等領(lǐng)域的革命性進(jìn)展。本文將講解現(xiàn)代微觀分析的兩大主力工具——掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）。為什么選擇電子成像？要理解電子顯微鏡的價(jià)值，我們首先需要明白成像的基本原理。日常生活中我們熟悉的光學(xué)顯微鏡，其分辨能力受到可見光波長(zhǎng)的限制?？梢?

  SEM TEM 電鏡 50瀏覽量

• 什么是CDM靜電測(cè)試？2025-11-06 12:35

  

  CDM測(cè)試是一種模擬帶電集成電路自身快速靜電放電的可靠性檢測(cè)方法。一、CDM模型核心概念CDM（帶電設(shè)備模型）是ESD（靜電放電）測(cè)試中的一種關(guān)鍵模型，區(qū)別于HBM（人體模型）和MM（機(jī)器模型）。它專門模擬電子元器件（如芯片）在生產(chǎn)、運(yùn)輸或處理過程中因摩擦等因素自身累積靜電，隨后在接觸接地導(dǎo)體時(shí)發(fā)生的快速放電現(xiàn)象。其最顯著的特征是放電速度極快，電流上升時(shí)間在

  CDM ESD 集成電路 靜電測(cè)試 47瀏覽量

• 電子背散射衍射（EBSD）樣品制備技術(shù)：鋯合金與高碳鋼2025-11-05 14:40

  

  電子背散射衍射樣品制備工藝電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是現(xiàn)代材料微觀結(jié)構(gòu)分析的核心手段之一，通過與掃描電子顯微鏡（SEM）及能譜儀（EDS）的聯(lián)用，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)材料顯微組織、晶體取向、相分布及織構(gòu)等關(guān)鍵信息的定量表征。該技術(shù)分析的準(zhǔn)確性、分辨率及數(shù)據(jù)質(zhì)量，從根本上依賴于樣品表面的制備狀態(tài)。一個(gè)理想的EBSD樣品表面需滿足無應(yīng)變層、無劃痕、平整度高且清潔無污染

  顯微鏡 電子束 101瀏覽量

• 一文搞懂四種電鏡測(cè)試的區(qū)別(SEM、TEM、EDS、EBSD)2025-11-05 14:39

  

  在材料科學(xué)與生物實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域，電子顯微鏡（EM）作為關(guān)鍵的微結(jié)構(gòu)表征手段，以電子束代替可見光作為照明源，可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨能力，顯著優(yōu)于光學(xué)顯微鏡的觀測(cè)極限。掃描電子顯微鏡（SEM）1.原理SEM的核心工作原理是利用極細(xì)的電子束（直徑約1-10納米）對(duì)樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。當(dāng)這些高能電子與樣品相互作用時(shí)，會(huì)激發(fā)出多種信號(hào)，其中最為重要的是二次電子和背散射電子。二次

  EDS SEM TEM 電鏡 154瀏覽量

• 什么是氣密性檢測(cè)2025-11-05 14:32

  

  在當(dāng)今對(duì)電子產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求日益嚴(yán)格的時(shí)代，確保設(shè)備的密封完整性至關(guān)重要。密封性能的失效將直接導(dǎo)致外部環(huán)境中的水分、塵埃、腐蝕性氣體或離子污染物侵入元件內(nèi)部，進(jìn)而引發(fā)電氣性能退化、金屬線路腐蝕、機(jī)械應(yīng)力損傷，最終導(dǎo)致元件功能喪失。什么是氣密性檢測(cè)氣密性檢測(cè)，亦稱密封性測(cè)試，是一種用于評(píng)估產(chǎn)品外殼或封裝結(jié)構(gòu)防止氣體（包括空氣、水汽及其他特定氣體）侵入或逸出

  檢測(cè) 電氣 92瀏覽量

• 熱重分析（TGA）技術(shù)詳解：原理、應(yīng)用與操作要點(diǎn)2025-11-04 14:43

  

  熱重分析（TGA）作為一種經(jīng)典的材料熱性能測(cè)試方法，在科研與工業(yè)領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。該方法通過監(jiān)測(cè)樣品質(zhì)量隨溫度或時(shí)間的變化，為評(píng)估材料的熱穩(wěn)定性、組成含量及熱分解行為提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。核心測(cè)試原理TGA測(cè)量的是材料在一定環(huán)境條件下，其重量隨溫度或時(shí)間的變化，目的是研究材料的熱穩(wěn)定性和組成。試樣可以是固體或液體．并以某一速率升溫或降溫，或在某一固定溫度

  儀器 性能測(cè)試 70瀏覽量

• 氬離子拋光技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域2025-11-03 11:56

  

  氬離子拋光技術(shù)作為一項(xiàng)前沿的材料表面處理手段，憑借其高效能與精細(xì)加工的結(jié)合，為多個(gè)科研與工業(yè)領(lǐng)域帶來突破性解決方案。該技術(shù)通過低能量離子束對(duì)材料表面進(jìn)行精準(zhǔn)處理，不僅能快速實(shí)現(xiàn)拋光還能在微觀尺度上保留樣品的原始結(jié)構(gòu)和特性。一、拋光系統(tǒng)核心氬離子拋光系統(tǒng)的核心在于其先進(jìn)的離子槍設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)配備了兩個(gè)低能量聚集能力的離子槍，能夠在極低的能量水平（低至100eV）

  光電 拋光 73瀏覽量