動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:46

  高精度TLM測量技術(shù)：在金屬-石墨烯接觸電阻表征中的應(yīng)用研究

  

  石墨烯作為最具代表性的二維材料，憑借其卓越的電學(xué)性能在高性能電子器件領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大應(yīng)用潛力。然而，金屬-石墨烯接觸電阻問題一直是制約其實際應(yīng)用的瓶頸。接觸電阻可占石墨烯場效應(yīng)晶體管(GFET)總電阻的50%以上，顯著影響器件性能。Xfilm埃利測量專注于電阻/方阻及薄膜電阻檢測領(lǐng)域創(chuàng)新研發(fā)與技術(shù)突破。本文基于Xfilm埃利TLM接觸電阻測試儀，系統(tǒng)評估了TL

  TLM 測量 石墨烯

  209瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:46

  金屬-半導(dǎo)體接觸電阻測量的TLM標(biāo)準(zhǔn)化研究：模型優(yōu)化與精度提升

  

  Xfilm埃利測量專注于電阻/方阻及薄膜電阻檢測領(lǐng)域的創(chuàng)新研發(fā)與技術(shù)突破，致力于為全球集成電路和光伏產(chǎn)業(yè)提供高精度、高效率的量檢測解決方案。公司以核心技術(shù)為驅(qū)動，深耕半導(dǎo)體量測裝備及光伏電池電阻檢測系統(tǒng)的研發(fā)。在半導(dǎo)體器件制造過程中，金屬-半導(dǎo)體歐姆接觸的質(zhì)量直接影響器件性能。傳輸線模型（TLM）作為最常用的測量方法，其測量結(jié)果卻在不同尺寸設(shè)備間存在顯著差異

  TLM 半導(dǎo)體 電阻測量

  361瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:46

  低電流接觸電阻機理研究：汽車電動化中多觸點接觸電阻的實驗驗證

  

  電接觸是電子與汽車系統(tǒng)中不可或缺的組件。隨著汽車行業(yè)向電動化轉(zhuǎn)型，傳感器與數(shù)據(jù)采集所需的電連接器數(shù)量大幅增加。接觸故障可能導(dǎo)致設(shè)備損壞甚至危及生命安全，而高接觸電阻是引發(fā)故障的主要因素之一。為精確量化接觸電阻特性，本研究結(jié)合數(shù)值模擬與解析方法，并依托Xfilm埃利TLM接觸電阻測試儀的實驗驗證能力，對多觸點系統(tǒng)的電阻分布規(guī)律展開分析。解析模型與數(shù)值模型構(gòu)建/

  低電流 汽車 電阻

  317瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:46

  量子霍爾效應(yīng)（QHE）的界面耦合誘導(dǎo)與雙柵調(diào)控：石墨烯-CrOCl異質(zhì)結(jié)的機制研究

  

  量子霍爾效應(yīng)（QHE）作為凝聚態(tài)物理中的經(jīng)典現(xiàn)象，其拓?fù)浔Ｗo的邊緣態(tài)在精密測量和量子計算中具有重要價值。近年來，石墨烯因其獨特的狄拉克錐能帶結(jié)構(gòu)成為研究QHE的理想平臺。然而，界面耦合對QHE的調(diào)控機制仍存在諸多未解之謎。本研究通過構(gòu)建石墨烯與反鐵磁絕緣體CrOCl的異質(zhì)結(jié)，并基于ECOPIA霍爾效應(yīng)測試儀HMS-3000的高精度電學(xué)表征系統(tǒng)，首次觀測到一種

  石墨烯 量子 霍爾效應(yīng)

  285瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:46

  四探針法校正因子的全面綜述：基于實驗與數(shù)值模擬的電阻率測量誤差修正

  

  四探針法（4PP）作為一種非破壞性評估技術(shù)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測量。其非破壞性特點使其適用于從宏觀到納米尺度的多種材料。然而，傳統(tǒng)解析模型在校正因子的計算中存在近似誤差，尤其是在樣品幾何尺寸與探針間距相當(dāng)時。本文通過數(shù)值模擬和實驗交叉驗證并結(jié)合Xfilm埃利四探針方阻儀提供的準(zhǔn)確測量數(shù)據(jù)優(yōu)化這些校正因子，提升測量準(zhǔn)確性。四探針法的基本

  測量 電阻率

  494瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:45

  采用傳輸線法（TLM）探究有機薄膜晶體管的接觸電阻可靠性及變異性

  

  有機薄膜晶體管（TFTs）的高頻性能受限于接觸電阻（RC），尤其是在短通道L1cm2（V?s）條件下。即使采用相同材料和工藝，接觸電阻仍存在顯著的批次間差異。這種變異性對器件性能的可靠性和規(guī)?；a(chǎn)提出了挑戰(zhàn)。本研究通過Xfilm埃利TLM接觸電阻測試儀的高精度傳輸線法分析，結(jié)合通道形貌的納米級表征，系統(tǒng)揭示了接觸電阻的測量誤差來源及其變異性機

  TLM 接觸電阻 晶體管

  200瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:45

  從實驗室到應(yīng)用：半金屬與單層半導(dǎo)體接觸電阻的創(chuàng)新解決方案

  

  金屬-半導(dǎo)體界面接觸電阻是制約半導(dǎo)體器件微縮化的關(guān)鍵問題。傳統(tǒng)金屬（如Ni、Ti）與二維半導(dǎo)體接觸時，金屬誘導(dǎo)帶隙態(tài)（MIGS）導(dǎo)致費米能級釘扎，形成肖特基勢壘?，F(xiàn)有策略（如重?fù)诫s或插入介電層）在二維材料中效果有限。本研究提出利用半金屬鉍（Bi）與單層過渡金屬硫?qū)倩衔铮═MDs）接觸，借助Xfilm埃利TLM接觸電阻測試儀，結(jié)合半金屬（鉍，Bi）的獨特電子

  半導(dǎo)體 實驗室 接觸電阻

  422瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:45

  基于四點探針和擴展電阻模型的接觸電阻率快速表征方法

  

  接觸電阻率（ρc）是評估兩種材料接觸性能的關(guān)鍵參數(shù)。傳統(tǒng)的傳輸長度法（TLM）等方法在提取金屬電極與c-Si基底之間的ρc時需要較多的制造和測量步驟。而四探針法因其相對簡單的操作流程而備受關(guān)注，但其廣泛應(yīng)用受限于所需的3D模擬數(shù)據(jù)擬合過程。本文通過引入結(jié)合Xfilm埃利四探針方阻儀與擴展電阻模型（SRM）的方法快速準(zhǔn)確的提取ρc。四點探針法基礎(chǔ)/Xfilm四

  TLM 探針 接觸電阻

  290瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:45

  非局域四探針法：超導(dǎo)薄膜顆粒度對電阻特性的影響機制解析

  

  技術(shù)支持：4009926602超導(dǎo)薄膜的微觀不均勻性（顆粒度）是影響其宏觀性能的關(guān)鍵因素。在接近臨界溫度（T??）時，傳統(tǒng)四探針法常觀測到異常電阻峰，這一現(xiàn)象長期被誤認(rèn)為材料本征特性。然而，研究表明，此類異?？赡茉从诔瑢?dǎo)參數(shù)的局部差異（如T??和ΔT??的非均勻分布）導(dǎo)致的電流重分布效應(yīng)。本文通過構(gòu)建非局域四探針模型，結(jié)合實驗與磁場調(diào)控，系統(tǒng)解析了電阻峰的物

  測量 電阻特性 薄膜

  232瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:45

  基于傳輸線法TLM與隔離層優(yōu)化的4H-SiC特定接觸電阻SCR精準(zhǔn)表征

  

  4H-碳化硅（4H-SiC）因其寬禁帶（3.26eV）、高熱導(dǎo)率（4.9W·cm?1·K?1）和高擊穿場強（2.5MV·cm?1），成為高溫、高功率電子器件的核心材料。然而，其歐姆接觸的精準(zhǔn)表征面臨關(guān)鍵挑戰(zhàn)：商用襯底的高摻雜特性導(dǎo)致電流擴散至襯底深層，使得傳統(tǒng)傳輸線法（TLM）測得的特定接觸電阻（SCR）顯著偏離真實值。本研究結(jié)合Xfilm埃利TLM接觸電阻

  SCR SiC 接觸電阻

  371瀏覽量