摘要
隨著激光雷達(dá)技術(shù)的不斷發(fā)展,其在軍事、航天、無人駕駛等高精尖領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。然而,激光雷達(dá)系統(tǒng)在復(fù)雜環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性面臨著諸多挑戰(zhàn),尤其是受到輻射環(huán)境的影響。MCU作為激光雷達(dá)系統(tǒng)的核心部件,承擔(dān)著信號處理、控制等關(guān)鍵任務(wù),其抗輻照性能對整個系統(tǒng)的穩(wěn)定性至關(guān)重要。本文深入分析了抗輻照MCU芯片在激光雷達(dá)領(lǐng)域的適配性,從芯片的抗輻照機(jī)制、工作環(huán)境、性能參數(shù)以及在激光雷達(dá)中的應(yīng)用等方面進(jìn)行了詳細(xì)的探討,并結(jié)合國科安芯推出的AS32S601系列MCU的試驗(yàn)結(jié)果,為激光雷達(dá)系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供了參考依據(jù)。
1. 引言
激光雷達(dá)(Lidar)作為一種先進(jìn)的遙感測量技術(shù),通過發(fā)射激光束并接收反射信號來獲取目標(biāo)物體的距離、速度、形狀等信息。其廣泛應(yīng)用于軍事偵察、地形測繪、無人駕駛車輛的環(huán)境感知以及航天探索等領(lǐng)域。在這些應(yīng)用場景中,激光雷達(dá)系統(tǒng)往往面臨著復(fù)雜的輻射環(huán)境,如高能粒子、X射線、γ射線等,這些輻射可能會對電子元件產(chǎn)生單粒子效應(yīng)(SEE)、總劑量效應(yīng)(TID)等,導(dǎo)致系統(tǒng)性能下降甚至失效。
MCU作為激光雷達(dá)系統(tǒng)的大腦,負(fù)責(zé)控制激光發(fā)射、信號接收與處理、數(shù)據(jù)傳輸?shù)汝P(guān)鍵任務(wù)。因此,MCU的抗輻照能力直接關(guān)系到激光雷達(dá)系統(tǒng)在輻射環(huán)境中的可靠性和穩(wěn)定性。近年來,抗輻照MCU芯片的研發(fā)取得了顯著進(jìn)展,其中國科安芯推出的AS32S601系列MCU以其優(yōu)異的抗輻照性能和強(qiáng)大的功能特性,成為了研究的熱點(diǎn)。
2. 激光雷達(dá)系統(tǒng)對MCU的需求
2.1 高效信號處理能力
激光雷達(dá)系統(tǒng)需要對大量的激光回波信號進(jìn)行實(shí)時處理,包括信號的放大、濾波、模數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)、數(shù)據(jù)壓縮等。MCU必須具備高速信號處理能力,以滿足激光雷達(dá)高精度測量和實(shí)時數(shù)據(jù)更新的要求。AS32S601系列MCU內(nèi)置了3個12位的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),最多支持48通道模擬通路,采樣率高達(dá)2MHz,能夠快速、準(zhǔn)確地采集和處理激光回波信號,為精確的距離和速度測量提供保障。
2.2 強(qiáng)大的通信接口
激光雷達(dá)系統(tǒng)通常需要與外部設(shè)備(如計(jì)算機(jī)、存儲設(shè)備、其他傳感器等)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互和協(xié)同工作。因此,MCU應(yīng)具備多種通信接口,如SPI、I2C、USART、CAN等,以滿足系統(tǒng)的通信需求。AS32S601系列MCU提供了豐富的通信接口,包括6路SPI、4路CAN、4路USART和2路I2C,支持多種標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議,能夠?qū)崿F(xiàn)高效的數(shù)據(jù)傳輸和系統(tǒng)集成。
2.3 高精度的時鐘和定時功能
激光雷達(dá)系統(tǒng)對時間精度要求極高,MCU需要提供高精度的時鐘和定時功能,以確保激光發(fā)射和接收的精確同步。AS32S601系列MCU具備多個時鐘源,包括外部晶振(OSC)、內(nèi)部高頻振蕩器(FIRC)、內(nèi)部低頻振蕩器(SIRC)和系統(tǒng)鎖相環(huán)(PLL),能夠提供穩(wěn)定的時鐘信號,滿足激光雷達(dá)系統(tǒng)的定時需求。
2.4 低功耗設(shè)計(jì)
在一些便攜式或長時間工作的激光雷達(dá)系統(tǒng)中,如無人駕駛車輛、無人機(jī)等,MCU的低功耗設(shè)計(jì)對于延長系統(tǒng)的工作時間和提高能源利用效率具有重要意義。AS32S601系列MCU采用了多種低功耗管理模式,如RUN、SRUN、SLEEP、DEEPSLEEP等,能夠根據(jù)系統(tǒng)的工作狀態(tài)動態(tài)調(diào)整功耗,有效降低能源消耗。
2.5 高可靠性與穩(wěn)定性
激光雷達(dá)系統(tǒng)通常工作在復(fù)雜的環(huán)境條件下,面臨著高溫、低溫、振動、輻射等多種惡劣因素的影響。MCU必須具備高可靠性與穩(wěn)定性,以確保系統(tǒng)在各種環(huán)境下的正常運(yùn)行。AS32S601系列MCU通過了AEC-Q100 Grade 1認(rèn)證,符合ISO26262 ASIL-B功能安全等級要求,具備高安全、低失效的特點(diǎn),能夠適應(yīng)激光雷達(dá)系統(tǒng)的嚴(yán)苛工作環(huán)境。
3. 抗輻照MCU芯片的抗輻照機(jī)制
3.1 單粒子效應(yīng)(SEE)及其防護(hù)
單粒子效應(yīng)是指高能粒子(如質(zhì)子、重離子等)穿過半導(dǎo)體器件時,可能引起器件內(nèi)部電荷的瞬時變化,導(dǎo)致器件功能異?;驌p壞。單粒子效應(yīng)主要包括單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)、單粒子鎖定(SEL)、單粒子瞬時脈沖(SET)等。
為了提高M(jìn)CU的抗單粒子效應(yīng)能力,AS32S601系列MCU采用了多種抗輻照設(shè)計(jì)技術(shù)。例如,芯片內(nèi)部采用了多層屏蔽結(jié)構(gòu),利用金屬層和介質(zhì)層的組合來吸收和散射高能粒子,降低其對敏感區(qū)域的影響。此外,芯片還采用了冗余設(shè)計(jì),在關(guān)鍵電路(如存儲單元、控制邏輯等)中設(shè)置冗余單元,當(dāng)某一單元受到單粒子效應(yīng)影響時,冗余單元可以迅速接管工作,確保系統(tǒng)的正常運(yùn)行。
3.2 總劑量效應(yīng)(TID)及其防護(hù)
總劑量效應(yīng)是指半導(dǎo)體器件在長期受到輻射照射時,累積的電離劑量可能導(dǎo)致器件性能下降甚至失效。總劑量效應(yīng)會引起器件的閾值電壓漂移、漏電流增加、載流子遷移率降低等問題,從而影響器件的正常工作。
AS32S601系列MCU通過優(yōu)化器件的制造工藝和設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)來提高其抗總劑量效應(yīng)能力。例如,采用先進(jìn)的抗輻照MOSFET工藝,降低器件的敏感性;優(yōu)化器件的柵極氧化層厚度和材料,提高其抗電離輻射的能力;采用輻射硬化的電路設(shè)計(jì),如增加反饋電路、采用抗輻照的邏輯門等,確保器件在高總劑量輻射環(huán)境下的穩(wěn)定工作。
4. AS32S601系列MCU的抗輻照性能試驗(yàn)分析
4.1 質(zhì)子單粒子效應(yīng)試驗(yàn)
根據(jù)北京中科芯試驗(yàn)空間科技有限公司出具的《AS32S601ZIT2型MCU質(zhì)子單粒子效應(yīng)試驗(yàn)報告》(編號:2025-ZZ-BG-005),對AS32S601ZIT2型MCU進(jìn)行了質(zhì)子單粒子效應(yīng)試驗(yàn),試驗(yàn)條件為100MeV能量、1e7注量率,總注量為1e10。試驗(yàn)結(jié)果顯示,在整個試驗(yàn)過程中,器件功能正常,未出現(xiàn)單粒子效應(yīng),表明AS32S601ZIT2型MCU具有較強(qiáng)的抗質(zhì)子單粒子效應(yīng)能力。
4.2 總劑量效應(yīng)試驗(yàn)
《AS32S601ZIT2型MCU總劑量效應(yīng)試驗(yàn)報告》(編號:ZKX-TID-TP-006)表明,AS32S601ZIT2型MCU在經(jīng)過鈷60γ射線源的輻照試驗(yàn)后,其抗總劑量輻照指標(biāo)大于150krad(Si),退火后性能和外觀均合格。這說明該MCU在長期輻射環(huán)境下仍能保持良好的工作性能,滿足激光雷達(dá)系統(tǒng)在復(fù)雜輻射環(huán)境中的使用要求。
4.3 單粒子效應(yīng)脈沖激光試驗(yàn)
《AS32S601型MCU單粒子效應(yīng)脈沖激光試驗(yàn)報告》(編號:ZKX-2024-SB-21)指出,AS32S601型MCU在5V工作條件下,利用激光能量為120pJ(對應(yīng)LET值為5±1.25MeV·cm2/mg)開始進(jìn)行全芯片掃描,未出現(xiàn)單粒子效應(yīng)。在能量提升至1585pJ(對應(yīng)LET值為75±16.25MeV·cm2/mg)時,監(jiān)測到芯片發(fā)生了單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)現(xiàn)象。通過分析試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以看出,AS32S601型MCU在一定范圍內(nèi)的激光能量輻照下具有良好的抗單粒子效應(yīng)能力,能夠滿足激光雷達(dá)系統(tǒng)在一般輻射環(huán)境下的應(yīng)用需求。
5. 抗輻照MCU芯片在激光雷達(dá)領(lǐng)域的適配性評估
5.1 信號處理與控制
AS32S601系列MCU內(nèi)置的高速ADC和多種通信接口能夠滿足激光雷達(dá)系統(tǒng)對信號處理和數(shù)據(jù)傳輸?shù)男枨?。其高性能?a target="_blank">處理器核心和豐富的外設(shè)資源,可以實(shí)現(xiàn)對激光雷達(dá)系統(tǒng)的精確控制和高效管理,提高系統(tǒng)的整體性能。
5.2 工作環(huán)境適應(yīng)性
該系列MCU具備寬工作溫度范圍(-55~+125°C)和良好的抗輻照性能,能夠適應(yīng)激光雷達(dá)系統(tǒng)在不同環(huán)境下的工作需求,無論是高溫、低溫還是輻射環(huán)境,均能保持穩(wěn)定運(yùn)行。同時,其低功耗設(shè)計(jì)有助于延長激光雷達(dá)系統(tǒng)的工作時間,降低能源消耗,提高系統(tǒng)的能源利用效率。
5.3 系統(tǒng)集成與可擴(kuò)展性
AS32S601系列MCU提供了豐富的引腳資源和靈活的配置選項(xiàng),便于與其他傳感器、執(zhí)行器以及上位機(jī)進(jìn)行集成。其良好的可擴(kuò)展性使得激光雷達(dá)系統(tǒng)可以根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行功能擴(kuò)展和優(yōu)化,提高系統(tǒng)的適應(yīng)性和靈活性。
5.4 成本效益分析
與一些高端抗輻照MCU相比,AS32S601系列MCU在具備優(yōu)秀抗輻照性能的同時,成本相對較低,具有較高的性價比。這對于激光雷達(dá)系統(tǒng)的大規(guī)模應(yīng)用和商業(yè)化推廣具有重要意義,能夠在保證系統(tǒng)性能的前提下,降低系統(tǒng)的總體成本。
**6. **結(jié)論
抗輻照MCU芯片在激光雷達(dá)領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價值和廣闊的市場前景。AS32S601系列MCU憑借其卓越的抗輻照性能、強(qiáng)大的信號處理能力、豐富的通信接口以及良好的環(huán)境適應(yīng)性,能夠滿足激光雷達(dá)系統(tǒng)在復(fù)雜輻射環(huán)境下的工作需求。通過對該系列MCU的抗輻照性能試驗(yàn)分析和實(shí)際應(yīng)用案例研究,充分驗(yàn)證了其在激光雷達(dá)領(lǐng)域的適配性和可靠性。
未來需要在抗輻照性能優(yōu)化、系統(tǒng)集成度提高、功耗與成本降低等方面進(jìn)行持續(xù)創(chuàng)新和改進(jìn),以推動激光雷達(dá)技術(shù)在更廣泛領(lǐng)域的應(yīng)用和發(fā)展,為人類的科技進(jìn)步和產(chǎn)業(yè)升級做出更大貢獻(xiàn)。
審核編輯 黃宇
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