半導體技術飛速發(fā)展，IC測試與驗證的復雜性不斷增加。如今被測設備（DUT）涉及模擬、數(shù)字和混合信號領域，高度集成 ADC/DAC、運放、控制環(huán)路和 DSP 等，使測試任務在精度、時序控制和功能覆蓋上變得更加復雜且要求更高。因此，傳統(tǒng)測試系統(tǒng)的配置不斷擴大，包含示波器、波形發(fā)生器、頻譜分析儀、頻率響應分析儀、邏輯分析儀等多個儀器，這些設備通常來自不同供應商，自動化程度和配置要求差異較大，工程師需要額外編寫程序并通過電纜連接它們。雖然這種傳統(tǒng)的分立式測試方案能夠滿足當前的測試需求，但也意味著需要投入大量配置時間、維護校準精力和經(jīng)濟成本。

Moku憑借其強大的可重構(gòu)測試技術，集成了15+種儀器功能于一臺設備中。通過多儀器并行模式，用戶可以靈活組合不同的測試功能，支持多DUT并行測試，大大加速產(chǎn)品驗證和測試流程。最新型號Moku:Delta擁有8個輸入/輸出通道，2GHz帶寬和超低底噪，兼具靈活性與高性能，為半導體IC測試與驗證提供更精準、更高效的解決方案。

Moku在半導體器件與IC測試驗證中的優(yōu)勢

1. 高度集成，簡化測試系統(tǒng)

多種儀器功能（波形發(fā)生器、任意波形發(fā)生器、碼型發(fā)生器、頻率響應分析儀、示波器、邏輯分析儀、頻譜分析儀等）在單一 FPGA 平臺上運行；

無需多臺獨立儀器即可完成復雜測試，減少設備采購、布線、參考同步及長期維護與校準成本；

內(nèi)置專業(yè)儀器功能（鎖相放大器、相位表、時間間隔與頻率分析儀等），滿足復雜 DUT 測試需求。

2. 優(yōu)化信號保真度與抗干擾能力

多通道 ADC/DAC（高達 8 路）實現(xiàn) DUT 信號的高保真采集與激勵；

多儀器并行模式（MiM）支持最多 8 個儀器同時運行，儀器間數(shù)字互聯(lián)和時鐘總線設計減少物理線纜，降低噪聲、相位和時序偏差；

支持外部參考源輸入，兼顧系統(tǒng)同步靈活性。

3. 提升測試效率與自動化能力

單一硬件平臺運行統(tǒng)一時鐘，減少跨設備參考同步和觸發(fā)復雜度；

高度統(tǒng)一的 GUI 和 API 規(guī)范，簡化自動化測試流程，降低學習成本和開發(fā)周期；

靈活快速部署不同儀器功能組合，減少人為錯誤，提高測試效率。

4. 可重構(gòu)與自定義能力

FPGA 可編程性允許自定義信號處理算法，與其他儀器功能無縫結(jié)合；

隨需求迭代，可快速更新測試測量系統(tǒng)配置，適應不同 DUT 類型和測試場景；

支持實時分析與反饋控制（PID 控制器、數(shù)字濾波器等），提升精度和系統(tǒng)穩(wěn)定性。

5. 面向未來的多通道與高通量測試

支持多通道并行測量，滿足高通量測試需求；

降低測試時間和成本，同時保持高保真度和數(shù)據(jù)可靠性；

系統(tǒng)化解決復雜 DUT 測試和混合信號交互的挑戰(zhàn)。

市場活動預告

隨著半導體行業(yè)對更高性能、更靈活測試儀器的需求不斷增長，無論是設計開發(fā)還是生產(chǎn)測試，都需要更加緊湊和高效的測試工具來提高效率。Moku一臺設備集成全面的信號生成、測試分析和控制調(diào)節(jié)功能，支持云編譯與多儀器并行，客戶可以根據(jù)需要自定義測試方案，輕松應對復雜的測試挑戰(zhàn)。

我們即將參加以下展會，誠邀您蒞臨現(xiàn)場親身體驗Moku的強大功能，昊量光電的應用工程師將為您提供一對一的技術交流，幫助您更好地理解和應用Moku。