當 3C 制造邁入 “納米級精度” 新紀元，消費者對屏幕顯示效果與設備輕薄化的極致追求，正倒逼制造環(huán)節(jié)升級 ——0.1 微米級質量控制已成為行業(yè)硬性指標。作為國產光譜共焦技術引領者，立儀光譜共焦傳感器憑借 A 系列、D 系列、E 系列產品的 50 納米重復精度及多材質適應性，成為 3C 行業(yè)質檢環(huán)節(jié)的 “終極武器”。本期將深入解析其三大經典應用案例，揭秘如何破解精密制造中的檢測難題。

案例一：mini LED 點膠掃描 —— 破解透明膠水精密檢測難題

在 mini LED 顯示技術快速發(fā)展的當下，點膠工藝作為保障芯片固定與散熱的關鍵環(huán)節(jié)，其高度的精準控制直接影響產品性能與可靠性。由于 mini LED 芯片尺寸小、間距密，點膠高度需嚴格控制在微米級范圍，偏差過大會導致芯片貼合不良、散熱受阻等問題。

傳統(tǒng)測量方式面臨諸多挑戰(zhàn)：接觸式測量易觸碰芯片或膠水，造成損壞與污染；普通光學傳感器在測量微小膠點時，易受光線反射角度、膠點形狀不規(guī)則等因素影響，測量精度難以保證。

立儀光譜共焦傳感器的出現徹底打破了這一困局。其核心原理是發(fā)射寬光譜白光，經色散鏡頭分解為不同波長的單色光，當照射到膠水表面時，唯有滿足共焦條件的光線能通過小孔被光譜儀捕捉。通過對感測光波長的精準計算，可直接換算出傳感器與膠水表面的距離，實現膠水厚度的非接觸式精密測量。

案例二：手機屏油墨厚度測量 —— 微米級涂層的全流程質量守門人

手機屏幕的油墨涂刷工藝堪稱 “微米級的藝術創(chuàng)作”，需經過多次精密涂布工序，單次涂層厚度需嚴格控制在 50-200μm 區(qū)間，且各層平整度誤差必須≤±5μm。如此嚴苛的標準，對檢測技術提出了極高要求。

傳統(tǒng)檢測方式在此遭遇雙重困境：接觸式測量極易劃傷脆弱的涂層表面；普通光學傳感器因光能利用率不足 30%，且存在 > 0.1% F.S./°C 的顯著溫漂，根本無法滿足高速生產線的全檢需求。

立儀光譜共焦傳感器以亞微米級測量精度實現了突破性解決方案。非接觸式測量原理從根源上消除了劃傷風險，優(yōu)化的光學設計大幅提升光能利用效率，配合精準的溫度補償算法，完美適配微米級涂層的高速在線檢測場景。

從 mini LED 點膠的微米級管控到手機屏油墨的高精度測量，立儀光譜共焦技術以 50 納米級的重復精度、非接觸式的測量優(yōu)勢以及強大的多材質適應性，精準攻克了 3C 制造中的諸多質檢難題。在 “納米級精度” 成為行業(yè)標配的當下，立儀正以硬核技術實力，為 3C 制造的高質量發(fā)展注入強勁動力，推動國產高端制造向更高精度、更優(yōu)品質邁進。

審核編輯 黃宇