短路耐受時間是指IGBT在短路條件下能夠持續(xù)導(dǎo)通而不發(fā)生故障的時間。這個參數(shù)對于系統(tǒng)保護策略的設(shè)計至關(guān)重要，因為它決定了系統(tǒng)在檢測到短路并采取措施（如關(guān)閉IGBT或限制電流）之前可以容忍的最長時間。

在測量IGBT（絕緣柵雙極型晶體管）的短路耐受時間時，我們通常使用一個特定的測試電路。該電路中，一個電容器通過柵極驅(qū)動電路與IGBT相連。當(dāng)IGBT處于關(guān)閉狀態(tài)時，施加電源電壓VCC。

隨后，通過柵極驅(qū)動電路使IGBT導(dǎo)通，電容器中積蓄的電荷會突然釋放并流入IGBT。這個過程會在很短的時間內(nèi)發(fā)生，而IGBT在經(jīng)過一定的導(dǎo)通時間后可能會損壞。這個導(dǎo)通時間，即短路耐受時間，會受到VCC電壓、溫度、封裝類型等多種因素的影響，通常在幾微秒到幾十微秒之間。

在實際的測試過程中，通過控制柵極驅(qū)動電路逐步延長IGBT的導(dǎo)通時間，以確定器件何時會發(fā)生損壞。這個過程需要重復(fù)進行，以準(zhǔn)確測量出IGBT在損壞前能夠承受的最大導(dǎo)通時間。另一種方法是，驗證IGBT在規(guī)定的導(dǎo)通時間內(nèi)是否保持完好，以此來判斷其是否合格。

以ROHM公司的IGBT RGS系列為例，其最短的短路耐受時間為8微秒。在波形圖中，我們可以看到當(dāng)IGBT根據(jù)柵極信號導(dǎo)通（即發(fā)生短路）時，集電極電流開始流動。如果在13.5微秒后，IGBT根據(jù)柵極信號關(guān)閉，集電極電流被切斷，這表明在這個測試條件下，IGBT沒有損壞，能夠承受至少13.5微秒的短路時間。這超出了8微秒的保證值，顯示出有一定的余量。

集電極電壓在短路和關(guān)斷后的變化取決于電容器到IGBT集電極引腳間的寄生電感的充電或放電過程，導(dǎo)致電壓在短時間內(nèi)下降或上升。之后，集電極電壓會恢復(fù)到VCC水平。由于發(fā)熱的影響，隨著時間的推移，集電極電流會逐漸減少。

為了確保系統(tǒng)的可靠性和安全性，設(shè)計人員必須根據(jù)具體的應(yīng)用需求選擇合適的IGBT，并設(shè)計相應(yīng)的保護策略。這通常涉及到對IGBT的短路耐受時間進行測試，以確定其在特定條件下的性能。通過這些測試，可以確定在發(fā)生短路時需要采取的保護措施，以及在設(shè)計階段考慮的冗余和安全系數(shù)。