ATE(Automatic Test Equipment)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是用于檢測(cè)電子產(chǎn)品、電氣設(shè)備的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，是電測(cè)行業(yè)首選的一種測(cè)試方式，被廣泛應(yīng)用于通信、消費(fèi)電子、汽車電子、智能家居、半導(dǎo)體、電源模塊、醫(yī)療電子、航天航空等領(lǐng)域。ATE測(cè)試設(shè)備在電子設(shè)計(jì)、研發(fā)、制造生產(chǎn)過程中有著重要作用，通過自動(dòng)化測(cè)試，將測(cè)試結(jié)果與設(shè)計(jì)要求進(jìn)行對(duì)比，從而幫助企業(yè)提升電子產(chǎn)品性能和質(zhì)量，降低測(cè)試成本。

ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的原理

ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備由軟件和硬件兩部份組成。硬件主要是指測(cè)試中用到的測(cè)試夾具、測(cè)試接口、測(cè)試設(shè)備(如示波器、萬用表、程控電源、負(fù)載)等，軟件主要包括測(cè)試程序、算法、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等。

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備在測(cè)試時(shí)，將被測(cè)產(chǎn)品與測(cè)試設(shè)備連接，測(cè)試設(shè)備通過模擬實(shí)際工作環(huán)境對(duì)待測(cè)品進(jìn)行信號(hào)激勵(lì)，此時(shí)待測(cè)品會(huì)在信號(hào)激勵(lì)下產(chǎn)生電氣信號(hào)，測(cè)試設(shè)備會(huì)采集這些電氣信號(hào)(如電壓、電流、電阻等)并傳輸給軟件，軟件在一系列測(cè)試算法和數(shù)據(jù)處理算法后得到測(cè)試結(jié)果，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，生成數(shù)據(jù)報(bào)告，判斷待測(cè)品是否符合要求。

ATE測(cè)試設(shè)備的特點(diǎn)

1. 自動(dòng)化測(cè)試：與傳統(tǒng)手動(dòng)測(cè)試相比，自動(dòng)化測(cè)試簡化了繁瑣的測(cè)試程序，會(huì)自動(dòng)采集存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，提高了測(cè)試效率和準(zhǔn)確性，解放人力。

2. 支持多種測(cè)試內(nèi)容：如功能測(cè)試、可靠性測(cè)試、時(shí)序測(cè)試、電性測(cè)試等，可以模擬多種測(cè)試環(huán)境，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和穩(wěn)定性。

3. 批量測(cè)試：ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備支持批量測(cè)試，可以滿足企業(yè)大批量測(cè)試的需求。

4. 數(shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)報(bào)告：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備會(huì)自動(dòng)記錄、分析測(cè)試數(shù)據(jù)，并且支持?jǐn)?shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出。

ATECLOUD自動(dòng)測(cè)試設(shè)備

ATECLOUD是納米軟件開發(fā)的專注于電源模塊、電源管理芯片、IC測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，在提供軟件定制開發(fā)的同時(shí)，也會(huì)根據(jù)企業(yè)需求提供相應(yīng)的測(cè)試硬件設(shè)備，為企業(yè)提供整體軟硬件方案。

ATECLOUD不同于Labview，它是一種文字語言編程軟件，采取無代碼開發(fā)模式，無需編程，操作簡單，可以快速上手。該系統(tǒng)支持用戶自由編輯測(cè)試項(xiàng)目，創(chuàng)建測(cè)試程序進(jìn)行測(cè)試，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行多方位、多層級(jí)可視化看板分析，同時(shí)生成數(shù)據(jù)報(bào)告，方便查看數(shù)據(jù)。

ATECLOUD可以模擬多種測(cè)試環(huán)境來測(cè)試產(chǎn)品的性能，內(nèi)含設(shè)備自檢功能和測(cè)試監(jiān)控功能，通過移動(dòng)端實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)測(cè)試數(shù)據(jù)情況，可以隨時(shí)隨地進(jìn)行測(cè)試。ATECLOUD也有極強(qiáng)的兼容性，支持多種測(cè)試儀器型號(hào)，用戶可以自由選型。

審核編輯 黃宇