臺(tái)階儀測(cè)試原理及應(yīng)用 | 半導(dǎo)體ZnO薄膜厚度測(cè)量及SERS性能研究

表面增強(qiáng)拉曼散射SERS技術(shù)在痕量檢測(cè)中具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，但其性能依賴(lài)于活性基底的形貌精度。ZnO作為一種新型半導(dǎo)體薄膜材料，因其本征微米級(jí)表面粗糙度通過(guò)在...

2025-07-28 標(biāo)簽：測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)量 431 0

太陽(yáng)光模擬器光譜匹配度測(cè)量：關(guān)鍵技術(shù)與標(biāo)準(zhǔn)解讀?

在追求高效、精準(zhǔn)科研與生產(chǎn)的當(dāng)下，太陽(yáng)光模擬器光譜匹配度的重要性愈發(fā)凸顯。Luminbox憑借在精密光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)領(lǐng)域的深厚積淀，圍繞光譜匹配度開(kāi)展技...

2025-07-24 標(biāo)簽：測(cè)量模擬器太陽(yáng)光 387 0

LEM(萊姆) HLSR系列電流傳感器：精確測(cè)量的工業(yè)利器

在工業(yè)自動(dòng)化和電力控制領(lǐng)域，傳感器的準(zhǔn)確性和可靠性至關(guān)重要。我們今天來(lái)講講萊姆的HLSR系列傳感器，兼具高精度與高性能的電流傳感器。這款傳感器廣泛應(yīng)用于...

2025-07-24 標(biāo)簽：測(cè)量電流傳感器電力控制 420 0

在使用示波器探測(cè)時(shí)，你犯過(guò)這7大錯(cuò)誤嗎？

理想情況下，所有探頭都應(yīng)該是一條不會(huì)對(duì)被測(cè)設(shè)備產(chǎn)生任何干擾的導(dǎo)線，這樣才能精確復(fù)制被測(cè)信號(hào)。但現(xiàn)實(shí)情況是，探頭會(huì)給電路帶來(lái)負(fù)載效應(yīng)，探頭上的電阻、電容和...

2025-07-23 標(biāo)簽：示波器測(cè)量 408 0

熱重分析儀品牌有哪些？具備哪些優(yōu)勢(shì)

熱重分析儀是一種通過(guò)程序控溫下測(cè)量樣品質(zhì)量變化的檢測(cè)儀器，其用于測(cè)量材料熱穩(wěn)定性、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、組分分析等特性。熱重分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域較多，其中包括：食品工...

2025-07-23 標(biāo)簽：分析儀測(cè)量熱重分析 390 0

熱分析儀：材料科學(xué)研究的“溫度探針”

熱分析儀是一類(lèi)通過(guò)測(cè)量材料在溫度變化過(guò)程中的物理或化學(xué)性質(zhì)變化，揭示其熱行為、相變及熱穩(wěn)定性的精密儀器。作為材料科學(xué)、化學(xué)和工程領(lǐng)域的關(guān)鍵工具，熱分析儀...

2025-07-23 標(biāo)簽：測(cè)量熱分析儀 267 0

閃測(cè)儀案例丨輪廓+高度測(cè)量，這個(gè)組合更有性價(jià)比！

光子精密推出了QM系列閃測(cè)儀?+?CD-5000系列光譜共焦位移傳感器的組合，以高性價(jià)比的解決方案，滿足用戶的多重測(cè)量需求。 這一方案既能助用戶精準(zhǔn)完成...

2025-07-23 標(biāo)簽：測(cè)量影像測(cè)量?jī)x閃測(cè)儀 394 0

半導(dǎo)體薄膜厚度測(cè)量丨基于光學(xué)反射率的厚度測(cè)量技術(shù)

在半導(dǎo)體制造中，薄膜的沉積和生長(zhǎng)是關(guān)鍵步驟。薄膜的厚度需要精確控制，因?yàn)楹穸绕顣?huì)導(dǎo)致不同的電氣特性。傳統(tǒng)的厚度測(cè)量依賴(lài)于模擬預(yù)測(cè)或后處理設(shè)備，無(wú)法實(shí)時(shí)...

2025-07-22 標(biāo)簽：傳感器半導(dǎo)體測(cè)量 1.2k 0

半導(dǎo)體膜厚測(cè)量丨光譜反射法基于直接相位提取的膜厚測(cè)量技術(shù)

在現(xiàn)代半導(dǎo)體和顯示面板制造中，薄膜厚度的精確測(cè)量是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法如掃描電子顯微鏡（SEM）雖可靠，但無(wú)法用于在線檢測(cè)；橢圓偏振儀和光譜...

2025-07-22 標(biāo)簽：半導(dǎo)體測(cè)量光譜 821 0

DLC薄膜厚度可精準(zhǔn)調(diào)控其結(jié)構(gòu)顏色，耐久性和環(huán)保性協(xié)同提升

類(lèi)金剛石碳（DLC）薄膜因高硬度、耐磨損特性，廣泛應(yīng)用于刀具、模具等工業(yè)領(lǐng)域，其傳統(tǒng)顏色為黑色或灰色。近期，日本研究團(tuán)隊(duì)通過(guò)等離子體化學(xué)氣相沉積（CVD...

2025-07-22 標(biāo)簽：薄膜測(cè)量 744 0

橢偏儀測(cè)量薄膜厚度的原理與應(yīng)用

在半導(dǎo)體、光學(xué)鍍膜及新能源材料等領(lǐng)域，精確測(cè)量薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)是材料表征的關(guān)鍵步驟。Flexfilm光譜橢偏儀（SpectroscopicEllips...

2025-07-22 標(biāo)簽：測(cè)量薄膜厚度 1.2k 0

聚焦位置對(duì)光譜橢偏儀膜厚測(cè)量精度的影響

在半導(dǎo)體芯片制造中，薄膜厚度的精確測(cè)量是確保器件性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著工藝節(jié)點(diǎn)進(jìn)入納米級(jí)，單顆芯片上可能需要堆疊上百層薄膜，且每層厚度僅幾納米至幾十納米。...

2025-07-22 標(biāo)簽：測(cè)量光譜 573 0

薄膜厚度測(cè)量技術(shù)的綜述：從光譜反射法（SR）到光譜橢偏儀（SE）

薄膜在半導(dǎo)體、顯示和二次電池等高科技產(chǎn)業(yè)中被廣泛使用，其厚度通常小于一微米。對(duì)于這些薄膜厚度的精確測(cè)量對(duì)于質(zhì)量控制至關(guān)重要。然而，能夠測(cè)量薄膜厚度的技術(shù)...

2025-07-22 標(biāo)簽：薄膜測(cè)量光譜 1.6k 0

基于像散光學(xué)輪廓儀與單點(diǎn)膜厚技術(shù)測(cè)量透明薄膜厚度

透明薄膜在生物醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體及光學(xué)器件等領(lǐng)域中具有重要應(yīng)用，其厚度與光學(xué)特性直接影響器件性能。傳統(tǒng)接觸式測(cè)量方法（如觸針輪廓儀）易損傷樣品，而非接觸式光學(xué)...

2025-07-22 標(biāo)簽：測(cè)量光學(xué)器件表面輪廓儀 400 0

大面積薄膜光學(xué)映射與成像技術(shù)綜述：全光譜橢偏技術(shù)

在微電子制造與光伏產(chǎn)業(yè)中，大面積薄膜的均勻性與質(zhì)量直接影響產(chǎn)品性能。傳統(tǒng)薄膜表征方法（如濺射深度剖析、橫截面顯微鏡觀察）雖能提供高精度數(shù)據(jù)，但測(cè)量范圍有...

2025-07-22 標(biāo)簽：測(cè)量薄膜光伏 788 0

白光色散干涉：實(shí)現(xiàn)薄膜表面輪廓和膜厚的高精度測(cè)量

薄膜結(jié)構(gòu)在半導(dǎo)體制造中扮演著至關(guān)重要的角色，廣泛應(yīng)用于微電子器件、光學(xué)涂層、傳感器等領(lǐng)域。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷進(jìn)步，對(duì)薄膜結(jié)構(gòu)的檢測(cè)精度和效率提出了更高...

2025-07-22 標(biāo)簽：測(cè)量表面輪廓儀 864 0

臺(tái)階高度的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)丨在臺(tái)階儀校準(zhǔn)下半導(dǎo)體金屬鍍層實(shí)現(xiàn)測(cè)量誤差<1%

在半導(dǎo)體芯片制造過(guò)程中，臺(tái)階結(jié)構(gòu)的精確測(cè)量至關(guān)重要，通常采用白光干涉儀或步進(jìn)儀等非接觸式測(cè)量設(shè)備進(jìn)行監(jiān)控。然而，SiO?/Si臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)在測(cè)量中存在的...

2025-07-22 標(biāo)簽：半導(dǎo)體測(cè)量 399 0

薄膜質(zhì)量關(guān)鍵 |?半導(dǎo)體/顯示器件制造中薄膜厚度測(cè)量新方案

在半導(dǎo)體和顯示器件制造中，薄膜與基底的厚度精度直接影響器件性能?，F(xiàn)有的測(cè)量技術(shù)包括光譜橢偏儀（SE）和光譜反射儀（SR）用于薄膜厚度的測(cè)量，以及低相干干...

2025-07-22 標(biāo)簽：半導(dǎo)體測(cè)量顯示器件 1.2k 0

觸針式輪廓儀 | 臺(tái)階儀 | 納米級(jí)多臺(tái)階高度的精準(zhǔn)測(cè)量

臺(tái)階高度作為納米結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵參數(shù)，其測(cè)量精度直接影響相關(guān)研究與應(yīng)用。本文利用觸針式輪廓儀對(duì)三臺(tái)階高度樣品進(jìn)行測(cè)量與表征的方法。原始測(cè)量數(shù)據(jù)通過(guò)多項(xiàng)式擬合與...

2025-07-22 標(biāo)簽：高精度測(cè)量表面輪廓儀 371 0

液態(tài)金屬接觸電阻精確測(cè)量：傳輸線法（TLM）的新探索

液態(tài)金屬（如galinstan）因高導(dǎo)電性、可拉伸性及生物相容性，在柔性電子領(lǐng)域備受關(guān)注。然而，其與金屬電極間的接觸電阻（Rc）測(cè)量存在挑戰(zhàn)：傳統(tǒng)傳輸線...

2025-07-22 標(biāo)簽：測(cè)量接觸電阻TLM 843 0