資料介紹
并行測試(Parallel Test)擁有減少測試時間,降低測試成本的強大優(yōu)勢,正成為研究熱點之一。首先介紹了并行測試技術產生的背景,總結了國內外的研究現狀;接著介紹了實現并行測試的幾種結構;最后展望了并行測試技術的發(fā)展趨勢。
傳統(tǒng)ATS的測試方法是順序測試,一次僅能測試一個被測件(UUT,Unit Under Test)的某一個參數。計算機要么在等待UUT到達指定狀態(tài),要么在等待儀器完成測試,CPU和儀器有多達80%的時間處于空閑狀態(tài),整個系統(tǒng)的測試效率極低[1]。
20世紀末,隨著微電子技術的飛速發(fā)展,這種測試方式已經不能滿足印刷電路板(PCB)、通訊產品和片上系統(tǒng)(SoC)等集成電路(Integrated Circuit)測試領域中UUT大批量且日益復雜的特點,產品的測試成本在總成本中的比重越來越大。為了降低成本、減少測試時間,并行處理技術被引入并得到廣泛應用,形成了并行測試技術,并開始得到越來越多的關注。1996年,在美國國防部自動測試系統(tǒng)執(zhí)行局(DoD ATS EAO)的統(tǒng)一協(xié)調下,美軍與工業(yè)界聯合提出了下一代ATS“NxTest”的體系結構,將并行測試技術列為關鍵技術之一來研究。
傳統(tǒng)ATS的測試方法是順序測試,一次僅能測試一個被測件(UUT,Unit Under Test)的某一個參數。計算機要么在等待UUT到達指定狀態(tài),要么在等待儀器完成測試,CPU和儀器有多達80%的時間處于空閑狀態(tài),整個系統(tǒng)的測試效率極低[1]。
20世紀末,隨著微電子技術的飛速發(fā)展,這種測試方式已經不能滿足印刷電路板(PCB)、通訊產品和片上系統(tǒng)(SoC)等集成電路(Integrated Circuit)測試領域中UUT大批量且日益復雜的特點,產品的測試成本在總成本中的比重越來越大。為了降低成本、減少測試時間,并行處理技術被引入并得到廣泛應用,形成了并行測試技術,并開始得到越來越多的關注。1996年,在美國國防部自動測試系統(tǒng)執(zhí)行局(DoD ATS EAO)的統(tǒng)一協(xié)調下,美軍與工業(yè)界聯合提出了下一代ATS“NxTest”的體系結構,將并行測試技術列為關鍵技術之一來研究。
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