多樣化數(shù)字接口測(cè)試挑戰(zhàn)的解決方案——基于可編程FPGA的測(cè)試儀器
資料介紹
現(xiàn)今,電子測(cè)試工程師面臨著大量多樣化的數(shù)字接口帶來(lái)的挑戰(zhàn)。軍事、航空、通信和汽車(chē)電子都同時(shí)使用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和定制數(shù)字接口。專用特定接口的測(cè)試儀器和用于通用數(shù)字 I/O接口的測(cè)試儀器可以支持以上大部分接口。專用測(cè)試儀器是非常昂貴的,通用數(shù)字 I/O 接口的測(cè)試儀器僅試用部分方案并且需要大量編程/調(diào)試工作,最終也會(huì)增加成本。然而,基于可編程 FPGA 的測(cè)試儀器可以提供成本合理的解決方案,并可選通用數(shù)字 I/O 接口還是專用特定接口。本文將概述現(xiàn)代數(shù)字測(cè)試接口的需求,重點(diǎn)講解在電子模塊和系統(tǒng)的監(jiān)視和控制中應(yīng)用越來(lái)越普遍的串行數(shù)字接口。這些接口包括定制和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)版本,例如 SPI、I
2C、RapidIO、Ethernet 和 SpaceWire 等。對(duì)于高速串行接口,帶有特定接口的 SERDES 的使用和功能邏輯可以提供創(chuàng)建滿足需求的測(cè)試儀器的基礎(chǔ)。本文將會(huì)講述當(dāng)結(jié)合可用的商用 IP(Intellectual
Property)或定制的邏輯單元時(shí),基于可編程 FPGA 的測(cè)試儀器如何提供低成本、高靈活性的測(cè)試方案,此種測(cè)試儀器解決方案將實(shí)現(xiàn)單臺(tái)儀器支持多種應(yīng)用和多種接

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