前言
2.5次元測量儀使用方法：在使用之前必須進行校正，可選用塊規(guī)、標準球、或環(huán)規(guī)來對探針進行校正。影像和探針同步是指用影像光學(xué)系統(tǒng)和探針兩者測量同一元素時，其測量結(jié)果的坐標值相同。當需要同步時則設(shè)置同步，當不需要同步時則不設(shè)置同步。
一、產(chǎn)品描述
1.產(chǎn)品特性
2.5次元測量儀使用方法：在使用之前必須進行校正，可選用塊規(guī)、標準球、或環(huán)規(guī)來對探針進行校正。影像和探針同步是指用影像光學(xué)系統(tǒng)和探針兩者測量同一元素時，其測量結(jié)果的坐標值相同。當需要同步時則設(shè)置同步，當不需要同步時則不設(shè)置同步。
2.技術(shù)規(guī)格
| 產(chǎn)品型號 | TOCK300 | TOCK400 | TOCK500 | TOCK600 |
(X/Y/Z)量測行程 | 300*200*200 | 400*300*200 | 500*400*200 | 600*500*200 |
全機尺寸(mm) | 555X965X1662 | 700X1130X1662 | 860X1222X1662 | 1026X1543X1680 |
機臺承重量 | 30Kg | 30Kg | 40Kg | 40Kg |
CCD | 750TVL高清晰彩色CCD | |||
鏡頭 | 4K定格卡位連續(xù)變倍鏡頭 | |||
量測系統(tǒng) | AIM- CNC 2D | |||
電源供給 | 220V+10%,50/60Hz | |||
光學(xué)尺分辨率 | 0.001mm | |||
X/Y量測精度 | (2.8+L/200)um | |||
重復(fù)性 | 2um | |||
二、2.5次元測量儀使用方法
- 測量結(jié)果直接進行SPC數(shù)據(jù)分析并按照Ca,Cp,Cpk,Max,Min,Range,Avg,Std標準計算。
- 在影像測量行業(yè)引入了亞像素測量功能，對測量者沒有任何專業(yè)要求，提升了測量效率。
- 修改編輯及查看尋邊狀況 ：軟件可以修改編輯任何測量元素的尋邊范圍，光源亮度,倍率等。這樣可以方便測量員對程序修改，而不是重新編輯程序。
- 軟件可以建立多重工件座標系，并且可以在多個不同的Z軸平面上建立不同的Z軸座標系，測量的數(shù)據(jù)可以在哪一個座標系下測量的就顯示那個座標系下的數(shù)據(jù)，也可以只顯示當前座標系下的數(shù)據(jù)。
三、探針測量
