文章來源：得捷電子DigiKey

問：LED測試時出現(xiàn)電應力損傷的類型和原因

有時LED可能在測試過程中損壞，而工程師卻沒有注意到這種情況。在測試時須特別注意不要讓LED過載。

淺談驅(qū)動芯片的絕緣安規(guī)標準

測試工程師還應注意測試過程中的電應力損傷（即電氣過載）。這主要有以下三種情況：

1. 電氣過載（EOS）：

EOS威脅主要歸咎于處理不當和/或測試夾具設(shè)計問題；

附近雷擊和設(shè)備切換造成的浪涌，會在電力和數(shù)據(jù)線路上產(chǎn)生嚴重的瞬變能量。

2. 靜電放電（ESD）：

接觸ESD敏感（ESDS）物品的帶電物體（包括人）；

一個帶電的ESDS器件以不同的電位接觸地面或另一導電物體；

ESDS器件在暴露于靜電場時接地。

LED廠商推薦了關(guān)于預防和管理ESD/EOS威脅的指南。IEC 61340-5和ANSI/ESD S20.20標準提供了在系統(tǒng)中組裝LED組件時防止EOS和ESD損壞的相關(guān)指南。

3. 方向極化：

大多數(shù)LED可在正向偏壓下發(fā)光，且通常不會在反向偏壓下工作。LED由一個P-N結(jié)組成，如果高壓浪涌以相反的方向通過器件，該P-N結(jié)可能會因電流過大而被破壞。

LED廠商通常建議在安裝LED之前先使用齊納二極管來進行系統(tǒng)測試。

審核編輯 黃宇