亚洲精品久久久久久久久久久,亚洲国产精品一区二区制服,亚洲精品午夜精品,国产成人精品综合在线观看,最近2019中文字幕一页二页

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

【虹科干貨】基本元件可靠性測(cè)試方案

虹科測(cè)試測(cè)量 ? 2023-07-07 10:09 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

01

內(nèi)容摘要

本文介紹了一種基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng),旨在解決傳統(tǒng)手動(dòng)測(cè)量方法存在的局限性和需求提升的問(wèn)題。

該系統(tǒng)通過(guò)引入可變形測(cè)試模塊、大規(guī)模矩陣和配套設(shè)備,實(shí)現(xiàn)了電感和電阻的大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試。基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng)是一種創(chuàng)新的解決方案,能夠滿足電子設(shè)備制造業(yè)對(duì)大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試的需求。該系統(tǒng)在提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性的同時(shí),具備靈活性和適應(yīng)性,具有廣闊的應(yīng)用潛力。

我們相信,這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)將為電子設(shè)備制造商提供可靠的測(cè)試工具,推動(dòng)生產(chǎn)效率和質(zhì)量控制的提升。

02

電感和電阻測(cè)試的需求和挑戰(zhàn)

電感和電阻作為集成電路板中常見(jiàn)的元器件,在電子設(shè)備的制造過(guò)程中發(fā)揮著重要的作用。電感用于存儲(chǔ)和傳遞能量,調(diào)節(jié)信號(hào)頻率,起到濾波和耦合等功能。電阻則用于限制電流、分壓和匹配阻抗等關(guān)鍵任務(wù)。這些元器件的質(zhì)量和可靠性直接影響著電子設(shè)備的性能和壽命。

然而,電感和電阻在生產(chǎn)和使用過(guò)程中常常面臨著一些挑戰(zhàn)和問(wèn)題。首先,傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)量方法已經(jīng)無(wú)法滿足現(xiàn)代大規(guī)模生產(chǎn)的需求。手動(dòng)測(cè)量方法需要工人逐個(gè)進(jìn)行加電和測(cè)量,這在大批量生產(chǎn)中效率低下且容易出現(xiàn)誤差。此外,由于人為因素的影響,手動(dòng)測(cè)量方法的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性也存在一定的局限性。

提高電感和電阻測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性已經(jīng)成為電子設(shè)備制造商面臨的重要挑戰(zhàn)。高效而可靠的測(cè)試方法能夠幫助廠商及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問(wèn)題,提高產(chǎn)品的良品率和使用壽命。因此,尋找一種創(chuàng)新的測(cè)試系統(tǒng),能夠自動(dòng)化、快速地測(cè)試大量的電感和電阻元器件,并提供準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果,成為業(yè)界的迫切需求。這樣的測(cè)試系統(tǒng)不僅能提高生產(chǎn)效率,還可以有效降低成本并提升產(chǎn)品質(zhì)量。

在這樣的背景下,我們提出了基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng),旨在解決傳統(tǒng)手動(dòng)測(cè)量方法的局限性,提高測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性。

接下來(lái)的部分將詳細(xì)介紹該測(cè)試系統(tǒng)的原理、組成部分和優(yōu)勢(shì),以及它如何滿足電子設(shè)備制造商的需求。通過(guò)引入這個(gè)創(chuàng)新的測(cè)試系統(tǒng),我們相信能夠?yàn)殡娮釉O(shè)備制造商提供可靠的測(cè)試解決方案,推動(dòng)電感和電阻測(cè)試的進(jìn)一步發(fā)展。

03

系統(tǒng)的組成架構(gòu)

為了實(shí)現(xiàn)電感和電阻的大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試,我們?cè)O(shè)計(jì)了一種基于可變形測(cè)試模塊的測(cè)試系統(tǒng)。

57f71754-1c6b-11ee-a579-dac502259ad0.png

圖1: 基于可變形測(cè)試模塊的測(cè)試系統(tǒng)

該系統(tǒng)包括多個(gè)核心組件,包括可變形測(cè)試模塊、大規(guī)模矩陣、環(huán)境箱、可編程電源和其他附件。下面將逐個(gè)介紹這些組件及其在系統(tǒng)中的作用。

3.1

可變形測(cè)試模塊

可變形測(cè)試模塊是整個(gè)系統(tǒng)的核心部件,具備特殊的設(shè)計(jì)和功能。它集成了電壓和電流測(cè)試功能,并具備形狀可變的特性。可變形測(cè)試模塊能夠根據(jù)被測(cè)件的不同,靈活構(gòu)造測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),并實(shí)現(xiàn)電源分配和測(cè)試狀態(tài)監(jiān)測(cè)。這種可變形的特性使得測(cè)試系統(tǒng)能夠適應(yīng)不同種類的電感和電阻元器件的測(cè)試需求。

3.2

大規(guī)模矩陣

大規(guī)模矩陣是系統(tǒng)中的另一個(gè)重要組件,它起到連接和切換的作用。該矩陣具備高度可擴(kuò)展性,能夠同時(shí)連接多個(gè)可變形測(cè)試模塊和LRC儀器。通過(guò)矩陣的切換功能,可變形測(cè)試模塊能夠輪流切換被測(cè)件到測(cè)試模式,實(shí)現(xiàn)并行的測(cè)試方式。這樣的設(shè)計(jì)大大提高了測(cè)試效率,能夠快速、準(zhǔn)確地對(duì)大量電感和電阻進(jìn)行測(cè)試。

3.3

環(huán)境箱

環(huán)境箱在系統(tǒng)中起到提供穩(wěn)定測(cè)試環(huán)境的關(guān)鍵作用。被測(cè)件放置在環(huán)境箱中進(jìn)行加熱,通過(guò)控制溫度來(lái)模擬電感和電阻的老化過(guò)程。穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境能夠保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,確保被測(cè)件在一致的條件下進(jìn)行測(cè)試。

3.4

可編程電源

可編程電源為可變形測(cè)試模塊提供所需的電壓或電流輸出。通過(guò)可編程電源,我們能夠精確控制測(cè)試過(guò)程中施加在被測(cè)件上的電壓或電流,以確保測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性和可控性??删幊屉娫淳邆潇`活的參數(shù)設(shè)定和調(diào)節(jié)功能,能夠滿足不同電感和電阻元器件的測(cè)試需求。

3.5

其他附件

除了以上核心組件,測(cè)試系統(tǒng)還配備了其他附件,如測(cè)試接口、數(shù)據(jù)采集設(shè)備等。測(cè)試接口用于連接被測(cè)件和可變形測(cè)試模塊,確保信號(hào)的傳輸和交互。數(shù)據(jù)采集設(shè)備則用于記錄和分析測(cè)試結(jié)果,提供全面的測(cè)試數(shù)據(jù)和報(bào)告,為生產(chǎn)和質(zhì)量控制部門提供參考依據(jù)。

綜上所述,該測(cè)試系統(tǒng)的組成架構(gòu)是一個(gè)高度集成、靈活可變的系統(tǒng)。它的核心是可變形測(cè)試模塊和大規(guī)模矩陣,通過(guò)配套的環(huán)境箱和可編程電源,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)電感和電阻的大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試。這種組合架構(gòu)為電子設(shè)備制造商提供了高效、準(zhǔn)確的測(cè)試解決方案,將極大地推動(dòng)電感和電阻測(cè)試的發(fā)展和應(yīng)用。

581f9e72-1c6b-11ee-a579-dac502259ad0.jpg

圖2: 測(cè)試系統(tǒng)實(shí)物圖

04

系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)和應(yīng)用潛力

4.1

提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性的能力

該基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng)具有顯著的測(cè)試效率和準(zhǔn)確性優(yōu)勢(shì)。相比傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)量方法,該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化、快速的測(cè)試過(guò)程,大大節(jié)約了時(shí)間和人力資源。通過(guò)可編程電源和大規(guī)模矩陣的配合,可變形測(cè)試模塊能夠同時(shí)測(cè)試多個(gè)電感和電阻元器件,實(shí)現(xiàn)并行測(cè)試,從而提高了測(cè)試的吞吐量。同時(shí),系統(tǒng)能夠精確控制電壓和電流的施加,保證測(cè)試的穩(wěn)定性和可控性,提供準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。這種高效和準(zhǔn)確的測(cè)試能力有助于快速發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問(wèn)題,提升產(chǎn)品的良品率和使用壽命。

4.2

適應(yīng)不同種類器件的靈活性和可擴(kuò)展性

該測(cè)試系統(tǒng)具備靈活性和可擴(kuò)展性,能夠適應(yīng)不同種類的電感和電阻元器件的測(cè)試需求。可變形測(cè)試模塊的設(shè)計(jì)使得系統(tǒng)能夠根據(jù)被測(cè)件的不同,靈活構(gòu)造測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),并實(shí)現(xiàn)電源分配和測(cè)試狀態(tài)監(jiān)測(cè)。這意味著在同一套系統(tǒng)中,可以測(cè)試不同種類和規(guī)格的電感和電阻元器件,無(wú)需更換設(shè)備或重新調(diào)整測(cè)試配置。這種靈活性和可擴(kuò)展性極大地提高了測(cè)試系統(tǒng)的適應(yīng)性和效率,為電子設(shè)備制造商提供了更加便捷和經(jīng)濟(jì)的測(cè)試解決方案。

4.3

用于手機(jī)廠商質(zhì)量檢測(cè)和電子設(shè)備制造

該測(cè)試系統(tǒng)在手機(jī)廠商質(zhì)量部門和電子設(shè)備制造領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用潛力。手機(jī)作為現(xiàn)代人們生活中不可或缺的通信工具,對(duì)電感和電阻的質(zhì)量和可靠性要求非常高。通過(guò)該測(cè)試系統(tǒng),手機(jī)廠商可以對(duì)電感和電阻進(jìn)行全面的老化測(cè)試,監(jiān)測(cè)其性能和壽命。系統(tǒng)能夠在加熱加濕并持續(xù)通電的條件下加速電感和電阻的老化過(guò)程,并記錄失效時(shí)間,從而評(píng)估原材料的質(zhì)量和可靠性。這對(duì)于手機(jī)廠商來(lái)說(shuō)是至關(guān)重要的,能夠幫助他們及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問(wèn)題,并采取相應(yīng)的措施,提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

除了手機(jī)廠商,該測(cè)試系統(tǒng)也適用于其他電子設(shè)備制造領(lǐng)域,如電腦、平板、智能家居等。這些設(shè)備中同樣使用了電感和電阻元器件,對(duì)其質(zhì)量和性能要求也非常嚴(yán)格。通過(guò)該系統(tǒng)的應(yīng)用,電子設(shè)備制造商能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)試電感和電阻,提升產(chǎn)品質(zhì)量,減少故障率,增強(qiáng)競(jìng)爭(zhēng)力。

05

結(jié)論

本文介紹了虹科自研的基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)旨在提高測(cè)試效率、準(zhǔn)確性,并適應(yīng)不同種類器件的測(cè)試需求。通過(guò)可編程電源、大規(guī)模矩陣和配套的環(huán)境箱,該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化、大規(guī)模的測(cè)試過(guò)程,并提供全面的測(cè)試數(shù)據(jù)和報(bào)告。


584a2e3a-1c6b-11ee-a579-dac502259ad0.png

圖3: 電容老化測(cè)試系統(tǒng)界面

它為電子設(shè)備制造商提供了高效、準(zhǔn)確的測(cè)試解決方案,推動(dòng)了電感和電阻測(cè)試的發(fā)展和應(yīng)用。未來(lái),我們期待該系統(tǒng)在電子設(shè)備制造領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,為行業(yè)帶來(lái)更高的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和創(chuàng)新發(fā)展。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 測(cè)試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    8

    文章

    5964

    瀏覽量

    130513
  • 元件
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4

    文章

    1212

    瀏覽量

    38387
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    案例 | 為什么汽車零部件頭部企業(yè),選擇方案做方向盤EOL測(cè)試?

    方案助力提升方向盤產(chǎn)線測(cè)試效能汽車方向盤的EOL測(cè)試,如何做到既快又穩(wěn)?當(dāng)產(chǎn)線因測(cè)試偶發(fā)故障
    的頭像 發(fā)表于 10-29 17:33 ?88次閱讀
    <b class='flag-5'>虹</b><b class='flag-5'>科</b>案例 | 為什么汽車零部件頭部企業(yè),選擇<b class='flag-5'>虹</b><b class='flag-5'>科</b><b class='flag-5'>方案</b>做方向盤EOL<b class='flag-5'>測(cè)試</b>?

    如何測(cè)試時(shí)間同步硬件的性能和可靠性?

    )制定測(cè)試方案,同時(shí)需遵循行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(如 IEC 61850、EN 61000、DL/T 1507)確保合規(guī)。以下是具體的測(cè)試框架,分為 測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 09-19 11:54 ?348次閱讀

    跌落試驗(yàn)機(jī)在智能家居設(shè)備可靠性測(cè)試中的實(shí)踐

    通過(guò)可靠性測(cè)試,可以提前發(fā)現(xiàn)智能家居設(shè)備在設(shè)計(jì)、制造過(guò)程中存在的潛在問(wèn)題,如結(jié)構(gòu)強(qiáng)度不足、零部件連接不牢固、電子元件抗沖擊能力差等。針對(duì)這些問(wèn)題,研發(fā)人員可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化,提高產(chǎn)品的質(zhì)量
    的頭像 發(fā)表于 08-18 14:26 ?364次閱讀
    跌落試驗(yàn)機(jī)在智能家居設(shè)備<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>中的實(shí)踐

    AR 眼鏡硬件可靠性測(cè)試方法

    AR 眼鏡作為集成了光學(xué)、電子、傳感器等復(fù)雜硬件的智能設(shè)備,其硬件可靠性直接影響產(chǎn)品使用壽命和用戶體驗(yàn)。硬件可靠性測(cè)試需針對(duì) AR 眼鏡特殊結(jié)構(gòu)和使用場(chǎng)景,從機(jī)械強(qiáng)度、環(huán)境適應(yīng)、電池性能、傳感器精度等方面展開(kāi)系統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 06-19 10:27 ?809次閱讀
    AR 眼鏡硬件<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>方法

    關(guān)于LED燈具的9種可靠性測(cè)試方案

    LED燈具的可靠性試驗(yàn),與傳統(tǒng)燈具有顯著區(qū)別。作為新一代光源,LED燈具正在逐漸取代傳統(tǒng)節(jié)能燈的市場(chǎng),因此無(wú)法簡(jiǎn)單地沿用傳統(tǒng)燈具的測(cè)試方法。那么,LED燈具需要進(jìn)行哪些可靠性試驗(yàn)?zāi)???biāo)準(zhǔn)名稱:LED
    的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?578次閱讀
    關(guān)于LED燈具的9種<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>方案</b>

    可靠性測(cè)試包括哪些測(cè)試和設(shè)備?

    在當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)環(huán)境中,產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無(wú)論是電子產(chǎn)品、汽車零部件,還是智能家居設(shè)備,都需要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,以確保在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運(yùn)行,為用戶提供可靠
    的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?983次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>包括哪些<b class='flag-5'>測(cè)試</b>和設(shè)備?

    半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備

    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測(cè)試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過(guò)模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對(duì)半導(dǎo)體器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評(píng)估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。以下為你詳細(xì)介紹常見(jiàn)的半導(dǎo)體測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?714次閱讀
    半導(dǎo)體<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>設(shè)備

    提升QFN封裝可靠性的關(guān)鍵:附推拉力測(cè)試機(jī)檢測(cè)方案

    于各類集成電路中。然而,QFN封裝的可靠性直接影響到電子產(chǎn)品的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和使用壽命。為確保QFN封裝焊點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度和焊接質(zhì)量,推拉力測(cè)試成為不可或缺的檢測(cè)手段。 準(zhǔn)測(cè)控小編為您詳細(xì)介紹如何利用Alpha W260推拉力
    的頭像 發(fā)表于 05-08 10:25 ?748次閱讀

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過(guò)直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力,實(shí)現(xiàn)快速
    發(fā)表于 05-07 20:34

    芯片可靠性測(cè)試:性能的關(guān)鍵

    在芯片行業(yè),可靠性測(cè)試是確保產(chǎn)品性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為專業(yè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu),提供全面的芯片可靠性測(cè)試服務(wù),幫助企業(yè)在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中保持領(lǐng)先。預(yù)處理(Preconditioning,
    的頭像 發(fā)表于 03-04 11:50 ?1015次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>:性能的關(guān)鍵

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)是一個(gè)綜合的過(guò)程,涉及多個(gè)關(guān)鍵技術(shù)和層面,本文分述如下:可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)概述、可靠性評(píng)價(jià)的技術(shù)特點(diǎn)、可靠性評(píng)價(jià)的
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:17 ?1080次閱讀
    半導(dǎo)體集成電路的<b class='flag-5'>可靠性</b>評(píng)價(jià)

    厚聲貼片電感的可靠性測(cè)試:振動(dòng)與沖擊

    厚聲貼片電感作為一種關(guān)鍵的電子元件,其可靠性對(duì)于整個(gè)電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性和性能至關(guān)重要。在可靠性測(cè)試中,振動(dòng)與沖擊測(cè)試是評(píng)估貼片電感在實(shí)際應(yīng)用環(huán)
    的頭像 發(fā)表于 02-17 14:19 ?752次閱讀
    厚聲貼片電感的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>:振動(dòng)與沖擊

    霍爾元件可靠性測(cè)試步驟

    霍爾元件是一種利用霍爾效應(yīng)來(lái)測(cè)量磁場(chǎng)的傳感器,廣泛應(yīng)用于電機(jī)控制、位置檢測(cè)、速度測(cè)量以及電流監(jiān)測(cè)、變頻控制測(cè)試、交直流電源、電源逆變器和電子開(kāi)關(guān)等領(lǐng)域。為了確?;魻?b class='flag-5'>元件的性能和可靠性,
    的頭像 發(fā)表于 02-11 15:41 ?1097次閱讀

    如何測(cè)試光耦的性能與可靠性

    光耦作為電氣隔離的關(guān)鍵組件,其性能和可靠性直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和安全。因此,對(duì)光耦進(jìn)行嚴(yán)格的性能測(cè)試可靠性評(píng)估是必不可少的。 光耦性能測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 01-14 16:13 ?2289次閱讀

    方案 僅需4個(gè)步驟!輕松高效搭建TSN測(cè)試網(wǎng)絡(luò)

    隨著汽車行業(yè)向分層同構(gòu)以太網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)的轉(zhuǎn)型,時(shí)間敏感網(wǎng)絡(luò)(TSN)逐漸成為實(shí)現(xiàn)確定性以太網(wǎng)互操作的關(guān)鍵解決方案。本文將詳細(xì)介紹如何快速搭建TSN測(cè)試網(wǎng)絡(luò),涵蓋從流量特征分析到網(wǎng)絡(luò)配置的全過(guò)程,并介紹
    的頭像 發(fā)表于 01-06 11:32 ?834次閱讀
    <b class='flag-5'>虹</b><b class='flag-5'>科</b><b class='flag-5'>方案</b> 僅需4個(gè)步驟!輕松高效搭建<b class='flag-5'>虹</b><b class='flag-5'>科</b>TSN<b class='flag-5'>測(cè)試</b>網(wǎng)絡(luò)